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용도

시료에서 발생되는 여러 신호 중 이차전자 또는 반사전자를 검출하여 대상시료를 관찰

활용 예

각종소재(금속, 합금, 세라믹, 고분자, 태양광, 복합재 등)의 미세구조 관찰

각종소재(금속, 합금, 세라믹, 고분자, 태양광, 복합재 등)​의 정성분석

기기정보 및 선택사항
주사전자 현미경
(Scanning Eectronic)
제작회사 HITACHI
모델명 S-4300
사용료 서비스 의뢰/시료 50,000원
옵션
참관여부

기기예약 금액: 0원

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